Microscopía Electrónica De Barrido - SEM

Microscopio robusto y compacto con interfaz de usuario intuitiva, funciones automáticas como: enfoque, contraste, brillo, etc.

Funciones de alineación de fuente de electrones.

Aumentos hasta 150.000 (efectivos 80.000). Tamaño máximo de muestra hasta 60 mm de diámetro y 45 mm de altura, con este soporte especial de múltiples muestras permite a los usuarios observar hasta 7 muestras al mismo tiempo.

Posibilidad de integrar 3 detectores: SE, BSE y EDS. Control preciso con un joystick.