La serie de microscopios FTIR IRT-5000 proporciona nuevas funciones que mejoran drásticamente el análisis infrarrojo micro-espectroscópico. Los microscopios de la serie IRT-5000 pueden ser acoplados con cualquiera de los espectrómetros FTIR de las series FT/IR-4000/6000, combinando los análisis en micro como en macro FTIR y ofreciendo de esta manera los sistemas de microscopía e imagen IR La experiencia demostrada por Jasco y la tecnología acumulada a lo largo de más de 50 años en espectroscopia infrarroja, con el diseño óptico más avanzado ofrecen en la serie IRT-5000 la mejor solución para el análisis de las muestras, incluso de las más desafiantes.

Los sistemas se utilizan normalmente en el IR-Medio para la identificación de materiales y análisis forense o en el IR-Cercano e IR-Lejano para la investigación más fundamental. Algunos ejemplos por tipología de muestras y sector pudieran ser los que se indican a continuación siendo aplicados a investigación científica, educación, control de calidad, identificación química, análisis en procesos etc.

• Polimeros (todo tipo)
• Industria Farmaceutica y bienestar de la salud
• Forense
• Química en general (Combustibles, pinturas, etc.)
• Componentes electrónicos
• Medio ambiente 

Características de las nuevas series IRT-5000/7000

• Alto rendimiento óptico
• Excelente relación señal-ruido
• Alta resolución espacial
• Flexibilidad de uso
• Capacidades expandibles
• Amplia gama de accesorios

Mapeo uFTIR – Análisis de micro-áreas
Los nuevos sistemas de microscopia FT-IR de JASCO cuentan con una capacidad innovadora para el análisis de las muestras mediante la técnica de mapeo "IQ Mapping". Esta función permite el mapeo infrarrojo de múltiples puntos, líneas y áreas microscópicas de forma totalmente automatizada, pudiéndose incluso realizar con una plataforma de muestras manual “manual stage y un detector de un único elemento. El sistema escanea automáticamente los puntos o área especificada recogiendo rápidamente en un espectro completo cada punto medido sin haber tenido que mover la plataforma de muestra. La función de mapeo IQ puede proporcionar una medida de un área máxima de 400 micras cuadradas usando el objetivo Cassegrain 16×. La combinación de la función IQ Mapping con una plataforma de muestras motorizada “automatic stage” en los tres ejes XYZ proporciona una capacidad de análisis de área mucho más amplia y totalmente automatizada.

Las nuevas series IRT-5000/7000 ofrecen amplia versatilidad en el modo de mapeo pudiéndose combinar las diferentes opciones entre ellas.

IQ Mapping™
La función IQ mapping permite el análisis multi-puntos, de una linea, de un área y mapeo con objetivo ATR sin necesidad de mover el emplazamiento de la muestra, es decir permite automatizar el mapeo sin necesidad de un stage automático/motorizado realizando el análisis de de una forma fácil y rápida

• Punto único
• Múltiples puntos
• Línea
• Cuadrícula
• Mapeo con micro-ATR

Mapeo IQ con la plataforma de muestras motorizada XYZ

• Mapeo de grandes zonas
• Multi-ATR Mapping

Mapeo IQ utilizando el detector “MCT linear array” para una exploración más rápida
Combinado con la función Rapid Scan del espectrómetro permite realizar una exploración más rápida en la obtención de una imagen IR. También es posible combinar con el modo Step-Scan y obtener una imagen dinámica.

Innovador sistema de mapeo con objetivo ATR
El objetivo ATR ClearView proporciona una visualización simultánea de la muestra en contacto con el prisma mientras se adquiere el espectro. El modo IQ Mapping permite el mapeo automatizado de múltiples puntos, líneas, cuadrícula obteniendo la imagen IR del análisis de una zona microscópica con una plataforma manual y un detector de un solo elemento y combinada esta función con el objetivo ATR "ClearView" se permite el mapeo ATR y ATR Imaging de la muestra que esté en contacto con el objetivo ATR sin necesidad de mover la plataforma de la muestra o el objetivo ATR mientras se puede observar el área de la muestra en contacto con el prisma del ATR.

El modo de análisis utilizando la función IQ Mapping minimiza el daño de la muestra, proporciona una alta velocidad y medidas libres de contaminación cruzada en un área de muestreo relativamente pequeña.

IQ Monitoring™ 
Esta función permite observar la muestra y el espectro simultáneamente. Un espejo dicroico dirige la radiación IR y Visible hacia la muestra sin necesidad de cambiar el paso óptico para observar o adquirir el espectro.

Excepcional calidad de la observación visual
Todos los microscopios están equipados con una cámara de vídeo CMOS de alta resolución con una capacidad óptica de zoom 3x haciendo posible la observación de muestras con alta calidad. La función de zoom digital también está disponible para la visualización de la muestra a un aumento mucho mayor.

Control automático de iluminación
Mediante esta función el microscopio ajusta automáticamente la iluminación a la tipología de la muestra para poder visualizarse con absoluta nitidez y claridad.

Flexibilidad de muestreo
El sistema dispone de una amplia gama de modos de adquisición de datos proporcionando la mejor solución para cualquier tipo de muestra y/o aplicación. (Reflexión. Transmitancia, ATR, etc)

Primer software multiplataforma del mundo
Jasco ha desarrollado la primera plataforma de software totalmente completa con aplicaciones de control y de tratamiento de datos capaz de permitir trabajar de forma simultánea en el mismo ordenador con diferentes instrumentos en técnicas espectroscópicas y facilitar de esa manera al usuario una compresión sencilla a la hora de adquirir y/o manejar el control de los instrumentos o el procesamiento de los datos. El software Spectra Manager II incluye todas las funciones que cualquier usuario en espectroscopía pueda requerir aportando una forma cómoda de uso con funciones automáticas y procedimientos operativos simplificados para reducir al mínimo las operaciones manuales, potentes funciones de procesamiento de datos 2D/3D, visualización de la información química con todo tipo de opciones de manipulación estándar sobre los datos espectrales, interfaz gráfica fácil de usar, funciones de enfoque automático y auto-iluminación, registro de los ajustes de apertura utilizados comúnmente, reconocimiento automático de los objetivos del microscopio, visualización de los espectros en miniaturas que memorizan con coordenadas la posición de la muestra además del enfoque y la información de la apertura, ventana para la previsualización del espectro para comprobar las condiciones antes de la medición, monitorización IQ para la observación simultánea de la imagen y el espectro de la muestra, almacenamiento de datos que vinculan la imagen de la muestra y la apertura de información, capacidad de publicación de informes, etc.

Capacidad de expansión
Una amplia gama de accesorios opcionales está disponible y puede ser optimizado para las necesidades de cualquier aplicación que sea requerida. Como ejemplo algunos de ellos son:

• Pantalla TFT en color de 5,7 pulgadas o binocular
• Joystick para el control automatizado de la plataforma de muestra
• Opciones de extensión de longitud de onda - Detectores
• Objetivos ATR con control de presión por sensor
• Objetivo angular y polarizador IR
• Purga para el compartimento de muestra y opción de vacío completo
• Opciones de observación de la muestra (polarizador visible, varios tipos de objetivos, contraste diferencial, etc

Purga y Vacio completo (Full Vacuum)
Los picos de absorción debidos al vapor de agua y CO2 atmosférico pueden hacer que sea difícil obtener espectros de muestras de alta calidad, el microscopio óptico estándar y el sistema de purga multi-zona permite reducir los efectos de los gases de la atmósfera, si bien la solución más eficaz es la medición de las muestras en un sistema a vacío. La serie IRT-5000 permite ser configurada como un sistema de microscopía FTIR a vacio total (full vacuum).

Descripción del sistema IRT-5000

La serie de microscopios FTIR IRT-5000 incluye un carrusel automático con una selección de objetivos Cassegrain para la observación y medición. Se incluye un detector MCT de rango medio (Mid-IR) con opción para un detector DLaTGS de alta sensibilidad termostatizado mediante Peltier. Se pueden instalar hasta dos detectores para ampliar el rango espectral del microscopio. La función de mapeo IQ puede ser utilizada para la transmisión / reflexión o mapeo ATR sin necesidad de mover la plataforma de la muestra. Se puede instalar opcionalmente una plataforma de muestras motorizada en los tres ejes XYZ para ampliar el área de mapeo y poder utilizar el sistema de enfoque automático que proporciona al microscopio un sistema totalmente automático y controlado de mapeo sin tener que preocuparse de la tipología o irregularidad de la muestra a ser mapeada. La opción de un detector MCT lineal proporciona muy alta velocidad de imagen especialmente útil para los experimentos dinámicos.

Características de la nueva serie IRT-5000

• Mapeo IQ sin moverse la plataforma de muestra
• Suite de software Spectra Manager II
• Suite de software KnowItAll (Interpretación espectral y búsqueda en librerías)
• Purga (estándar) o vacío completo opcional
• Rapid Scan y software para análisis a intervalos de tiempo (opcional)
• Plataforma de muestras “Stage” manual o automática con control de los tres ejes XYZ
• Capacidad de detector dual y detectores de usuario intercambiables
• Carrusel de objetivos automatizado con capacidad para 4 objetivos con cambio automático
• Excepcional claridad de la observación visual
• IQ Monitoring para la observación simultánea de la imagen y el espectro de la muestra
• Espectro de previsualización para comprobar las condiciones antes de la medición
• Los archivos de datos incluyen además del espectro la imagen de la muestra y la información de la apertura utilizada

Microscopio FTIR IRT-5100:
Configuración estándar con plataforma de muestras manual y detector DLaTGS termostatizado por peltier.

El propósito general del microscopio FTIR IRT-5100 es realizar análisis de microscopía básicos sin tener que utilizar nitrógeno líquido para enfriar los detectores MCT dado que está equipado de serie con un detector DLATGS de alta sensibilidad y opcionalmente puede instalarse un segundo detector para ampliar el rango o cubrir otras necesidades analíticas. También de serie viene equipado con una plataforma de muestras manual “manual stage” y opcionalmente puede instalarse una plataforma motorizada en los tres ejes XYZ con enfoque automático, para realizar mapeos.

• Capacidad de dos detectores
• Variedad de modos de medición (transmisión, reflectancia, ATR, ángulo rasante)
• Carrusel automatizado de hasta 4 objetivos, con uno de ellos a elegir y el resto opcionales
• Opcional plataforma de muestras motorizada (automatic stage)

Microscopio FTIR IRT-5200:
Configuración estándar con plataforma de muestras manual y detector MCT Mid-Band muy alta sensibilidad.

El microscopio FTIR IRT-5200 incluye un detector MCT-Mid Band de muy alta sensibilidad y dispone de capacidad para instalar dos detectores más. Incorpora la función IQ Mapping que permite la realización de mapeos de muestras en múltiples puntos, un solo punto, líneas, áreas y experimentos de mapeo ATR sin mover la plataforma de la muestra. La plataforma de muestra motorizada y opcional “automatic-stage” XYZ proporciona el enfoque automático y el mapeo de imágenes o análisis de las áreas más grandes de muestra.

• IQ Mapping
• Capacidad de dos detectores
• Variedad de modos de medición (transmisión, reflectancia, ATR, ángulo rasante)
• Carrusel automatizado de hasta 4 objetivos, con uno de ellos a elegir y el resto opcionales
• Opcional plataforma mde muestras motorizada (Automatic Stage)
• Opcionalmente ampliable “in situ” a sistema de imagen de alta velocidad usando un detector “MCT linear array” de 16 elementos