La nueva serie MSV-5000 son tres modelos de microscopios de UV/VIS/NIR sobre la base de un espectrofotómetro de doble haz de alta resolución que permite realizar medidas precisas con alta resolución.
MSV-5100
Incorpora un microscopio UV/VIS con un detector fotomultiplicaor que permite medir en un intervalo de longitud de onda de 200-900nm
MSV-5200
Además del fotomultiplicador, incluye un segundo detector de PbS termostatizado por Peltier que permite medir en el rango 200-900nm.
MSV-5300
Utiliza como segundo detector un InGaAs que permite optimizar la sensibilidad en el NIR. Permite medir en el rango de 200-1700nm.
Características del sistema
Los objetivos se encuentran en un carrusel controlado mediante software que permite seleccionar cualquiera de los disponibles 10 X, 16 X o 32 X cassegrain, combinados con un función de zoom óptico que permite obtener imágenes de video a través de la cámara CMOS de alta resolución.
El ancho de banda espectral es variable para obtener diferente resolución espectral, así como aberturas circulares seleccionables y una abertura rectangular ajustable para discriminación del área de muestra a través del microscopio.
Se puede realizar la medida de la polarización a través de un sistema automatizado de polarizador de Glan-Taylor y analizador.
El automatic stage XYZ permite realizar medidas multi-punto y mapeo en 2D.
Todo el sistema está controlado por el software Spectra Manager™ II, software común para todos los instrumentos espectroscópicos JASCO, que ofrece la adquisición y el análisis de datos de rápida y fácil.
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MSV-5000 brochureMSV-5000 Estimation-of-the-Refractive-Index-of-Monocrystalline-Sapphire-by-Polarization-Measurements-using-the-MSV-5000-Series
MSV-5000 Thickness-Analysis-of-a-Natural-Oxide-Film-on-a-Microscopic-Si-Pattern
MSV-5000 Transmission-Measurement-of-Volvox-Algae-Using-the-MSV-5000-Series